Relacja ze szkolenia "Wzorcowanie a firma" organizowanego przez KIGEiT we współpracy z Instytutem Łączności i Polskim Forum ISO 9000

W dniach 22-23 lutego 2007 r. w Ośrodku Zetom w Jachrance, KIGEIT we współpracy z Instytutem Łączności i Polskim Forum ISO 9000 zorganizowała szkolenie dla przedsiębiorstw oraz akredytowanych i nieakredytowanych laboratoriów wzorcujących i badawczych, którego celem było omówienie zagadnień dotyczących wzorcowania/kalibracji aparatury pomiarowej, zachowania spójności pomiarowej i interpretacji wyników pomiarów i świadectw wzorcowania Przedstawiono system i rolę akredytowanych laboratoriów wzorcujących w Polsce i UE oraz wymagania systemów zarządzania w tym zakresie. Wykazano znaczenie wyposażenia (w tym przyrządów pomiarowych) potrzebnego w procesach monitorowania i pomiarów. Omówione zostały zasady wzorcowania przyrządów pomiarowych oraz zachowania spójności pomiarowej, jako podstawy uzyskiwania rzetelnych i wiarygodnych wyników pomiarów. Przedstawione zostały wymagania PCA dotyczące spójności pomiarowej w odniesieniu do certyfikacji systemów zarządzania. Przekazano również informacje na temat porównań międzylaboratoryjnych w dziedzinie wielkości elektrycznych i wykazano ich znaczenie dla jakości usług wzorcowania przyrządów pomiarowych.

Wykładowcami były osoby reprezentujące Polskie Centrum Akredytacji (PCA), Główny Urząd Miar (GUM), Instytut Łączności (IŁ) jak również Klub POLSKIE FORUM ISO 9000 oraz organizacje w nim skupione.

Zakres tematyczny szkolenia obejmował następujące zagadnienia:

• Monitorowanie i pomiary w systemach zarządzania - wymagania i wytyczne wynikające z norm z uwzględnieniem wyposażenia oraz kwalifikacji personelu
• Procesy pomiarowe w systemach zarządzania jakością
• Wymagania PCA dotyczące spójności pomiarowej w odniesieniu do certyfikacji systemów zarządzania
• System akredytowanych laboratoriów wzorcujących w Polsce i na świecie
• Spójność pomiarowa gwarantem ogólnoświatowej jednolitości miar
• Rola akredytowanych laboratoriów wzorcujących w systemach zarządzania jakością
• Niepewność pomiarów w procesach kontroli wyrobów
• Kontrola metrologiczna przyrządów pomiarowych
• Ocena i interpretacja wyników wzorcowania i świadectw wzorcowania
• Ryzyko wykonania zadania nie spełniającego wymagań

Konferencja dofinansowywana była ze środków Sektorowego Programu Operacyjnego Wzrost konkurencyjności przedsiębiorstw, lata 2004-2006, projekt „Opracowanie i wdrożenie systemu porównań laboratoriów wielkości elektrycznych w Polsce”, którego beneficjentem jest KIGEiT.

wersja do druku